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iPhone Duo 耐久測試出現進灰與彎折損壞
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AI 综述
2026年10月25日，鉅亨網報道，JerryRigEverything對摺疊手機iPhone Duo進行暴力耐久測試。測試中，這款標示IP68防塵的手機仍有灰塵從轉軸縫隙進入；反向彎折後，中框形變，7.6吋內螢幕出現永久綠線並失去觸控功能。刮痕測試方面，外螢幕到莫氏硬度7級才出現明顯刮痕，內螢幕的抗刮能力為莫氏硬度2級。報道未提供後續處理或廠商回應。
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最新进展10月25日 10:00 美东
耐久測試發現iPhone Duo轉軸進灰，反向彎折後內螢幕失靈。报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
10月25日
- 鉅亨網 · 美股雷達iPhone Duo 未通過 JerryRigEverything 暴力耐久測試，IP68 防塵仍進灰、反向彎折致內螢幕失靈
JerryRigEverything 對 iPhone Duo 進行暴力耐久測試，這款標示 IP68 防塵的摺疊手機仍有灰塵從轉軸縫隙進入，並在反向彎折後出現中框形變、7.6 吋內螢幕永久綠線及觸控失靈。外螢幕至莫氏硬度 7 級才出現明顯刮痕，內螢幕抗刮能力為莫氏硬度 2 級。
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还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。